Machine Learning and Knowledge Discovery in Databases. Research Track and Demo Track (eBook)

European Conference, ECML PKDD 2024, Vilnius, Lithuania, September 9-13, 2024, Proceedings, Part VIII
Artikelnummer: 978-3-031-70371-3
Einband: PDF
Verfügbarkeit: Download, sofort verfügbar (Link per E-Mail)
CHF 83.50
decrease increase

Chapter "Pattern or Artifact? Interactively Exploring Embedding Quality with TRACE" is available open access under a Creative Commons Attribution 4.0 International License via link.springer.com.

Chapter "Pattern or Artifact? Interactively Exploring Embedding Quality with TRACE" is available open access under a Creative Commons Attribution 4.0 International License via link.springer.com.

Schreiben Sie Ihre eigene Bewertung
  • Nur registrierte Benutzer können Produkte bewerten
*
*
Schlecht
Sehr gut
*
*
*
*
VerlagSpringer Nature Switzerland
EinbandPDF
Erscheinungsjahr2024
Seitenangabe436 S.
AusgabekennzeichenEnglisch
AbbildungenLVIII, 436 p. 145 illus., 131 illus. in color.
Masse38'978 KB
PlattformPDF
ReiheLecture Notes in Artificial Intelligence; Lecture Notes in Computer Science
AutorBifet, Albert (Hrsg.) / DaniuSis, Povilas (Hrsg.) / Davis, Jesse (Hrsg.) / Krilavicius, Tomas (Hrsg.) / Kull, Meelis (Hrsg.) / Ntoutsi, Eirini (Hrsg.) / Puolamäki, Kai (Hrsg.) / Zliobaite, Indre (Hrsg.)

Alle Bände der Reihe "Lecture Notes in Artificial Intelligence; Lecture Notes in Computer Science"

Weitere Titel von Albert (Hrsg.) Bifet

Produktbewertungen
Nur registrierte Benutzer können Produkte bewerten