Electron Spin Resonance and Related Phenomena in Low-Dimensional Structures

Artikelnummer: 978-3-642-26013-1
Einband: Kartonierter Einband (Kt)
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CHF 189.00
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Resistively Detected ESR and ENDOR Experiments in Narrow and Wide Quantum Wells: A Comparative Study.- Electron-Spin Manipulation in Quantum Dot Systems.- Resistively Detected NMR in GaAs/AlGaAs.- Electron-Spin Dynamics in Self-Assembled (In,Ga)As/GaAs Quantum Dots.- Single-Electron-Spin Measurements in Si-Based Semiconductor Nanostructures.- Si/SiGe Quantum Devices, Quantum Wells, and Electron-Spin Coherence.- Electrical Detection of Electron-Spin Resonance in Two-Dimensional Systems.- Quantitative Treatment of Decoherence.- Measuring the Charge and Spin States of Electrons on Individual Dopant Atoms in Silicon.- Electron Spin as a Spectrometer of Nuclear-Spin Noise and Other Fluctuations.- A Robust and Fast Method to Compute Shallow States without Adjustable Parameters: Simulations for a Silicon-Based Qubit.- Photon-Assisted Tunneling in Quantum Dots.

Resistively Detected ESR and ENDOR Experiments in Narrow and Wide Quantum Wells: A Comparative Study.- Electron-Spin Manipulation in Quantum Dot Systems.- Resistively Detected NMR in GaAs/AlGaAs.- Electron-Spin Dynamics in Self-Assembled (In,Ga)As/GaAs Quantum Dots.- Single-Electron-Spin Measurements in Si-Based Semiconductor Nanostructures.- Si/SiGe Quantum Devices, Quantum Wells, and Electron-Spin Coherence.- Electrical Detection of Electron-Spin Resonance in Two-Dimensional Systems.- Quantitative Treatment of Decoherence.- Measuring the Charge and Spin States of Electrons on Individual Dopant Atoms in Silicon.- Electron Spin as a Spectrometer of Nuclear-Spin Noise and Other Fluctuations.- A Robust and Fast Method to Compute Shallow States without Adjustable Parameters: Simulations for a Silicon-Based Qubit.- Photon-Assisted Tunneling in Quantum Dots.

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VerlagSpringer EN
EinbandKartonierter Einband (Kt)
Erscheinungsjahr2012
Seitenangabe275 S.
AusgabekennzeichenEnglisch
AbbildungenXIV, 261 p.
MasseH23.5 cm x B15.5 cm 427 g
CoverlagSpringer (Imprint/Brand)
ReiheTopics in Applied Physics
AutorFanciulli, Marco (Hrsg.)

Alle Bände der Reihe "Topics in Applied Physics"

Über den Autor Marco (Hrsg.) Fanciulli

Marco Fanciulli is the Director of the CNR-INFM MDM (Materials and Devices for Microelectronics) National Laboratory and Full Professor at the Department of Material Science at the University of Milano Bicocca.

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